Brewster 333半自動IC外観検出機

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Brewster 333は高性能な半自動IC外観検出機で、先進的な2 Dと3 D測定機能を搭載している。この装置はBGA、QFP、QFNなどの各種IC製品に特化して設計されており、従来の人工検査の代わりに検査効率を大幅に向上させることができる。Brewster 333は、正確な検出データとレポートを提供するだけでなく、さまざまな製品の互換性と検出結果を確保するために、さまざまな製品要件に応じてステージをカスタマイズします。

【特徴】
•ワンタッチテスト:ワンタッチ操作でテストを開始でき、操作プロセスを簡略化し、使用利便性を高める。
•キャリア設定不要:異なる製品の迅速なロードをサポートし、追加のデバイス設定を必要とせず、準備時間を短縮します。
•迅速な検出:各トレイのスキャン時間はわずか2分で、検出効率が大幅に向上します。
•インスタントレポートアップロード:テストレポートを即時アップロードし、MISシステムとシームレスに協力し、リアルタイムデータ管理と分析を提供する。
•機械の生産時間を節約:検査に必要な生産時間を効果的に短縮し、全体の生産効率を高める。
•テスト結果と写真保存機能:テスト結果を記録して写真を撮ることで、後続のクエリと詳細な分析を行うことができます。

【製品の優位性】
•人工IQC供給に代わる抜き取り検査:人工抜き取り検査の仕事を減らし、検査の一致性と正確性を高め、供給品質を確保する。
•手動FTマザーボードと生産自己検査(IPQC)の交換:製品品質を確保するために、マザーボードの検査と生産中に検査する自動検査機能を提供する。
•パレット地図の提供:顧客のデータ比較と追跡を容易にし、データ管理と追跡能力を高めるためにパレット地図を生成し、

【製品仕様】

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